CH-C2全自动高精度薄膜测厚仪
测厚仪CHY-C3适用于2mm范围内各种薄膜、薄片、隔膜、复合膜、纸张、纸板、玻璃、箔片、硅片、金属箔片、硬片、纺织材料、固体电绝缘体、无纺布材料等硬质和软质材料厚度准确测量。分辨率达0.1um,广泛应用于薄膜、铝箔生产企业、质检机构等单位
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更新日期
2026-09-18 - 02
厂商性质
生产厂家 - 03
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